PXIE-4143 4通道,精密PXI源测量单元

PXIe-4143(部件号:782431-01)源测量单元(SMU)包含一个实用通道,可以提供16位设定值和估计分辨率的电流或电压。用户可以利用这个输出,它给出了高达6v和1a,作为一个补充电源到SMU通道。应用,如晶体管的特性,需要一个稳定的电流或电压,同时扫描另一个电流或电压,可以显著受益于降低复杂性,空间和成本的模块提供。对于并行测试应用,用户可以在单个PXI框架中使用17个NI PXIe-4143模块,在19英寸和4U的空间中使用17个SMU通道和17个可编程电源通道。

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描述

PXIE-4143 4通道,精密PXI源测量单元

美国国家仪器PXIe-4143 PXI源测量单元

PXIe-4143(部件号:782431-01)源测量单元(SMU)包含一个实用通道,可以提供16位设定值和估计分辨率的电流或电压。用户可以利用这个输出,它给出了高达6v和1a,作为一个补充电源到SMU通道。应用,如晶体管的特性,需要一个稳定的电流或电压,同时扫描另一个电流或电压,可以显著受益于降低复杂性,空间和成本的模块提供。对于并行测试应用,用户可以在单个PXI框架中使用17个NI PXIe-4143模块,在19英寸和4U的空间中使用17个SMU通道和17个可编程电源通道。

该PXIe 4143 SMU的两个通道可以作为恒定电压源或稳定电流源,对任何模式都具有可移动的一致性限制。此外,用户还可以在SMU通道上赋予遥感功能,以提高被测设备输出/电压估计的准确性,以实现高精度应用。

PXIe-4143 SMU的估计策略通常是基于将电流运动添加到双极电路的标准中,然后再添加到电压响应估计中。如果被测器件(DUT)具有低电阻,则使用此策略;当被测件内阻较高时,进行电压运动相加,然后估计电流反应。

PXIE-4143

PXIE-4143 4通道,精密PXI源测量单元

National Instruments PXIe-4143 PXI Source Measure Unit

The PXIe-4143 (Part Number: 782431-01) Source Measure Unit (SMU) incorporates a utility channel that can supply current or voltage with a 16-bit setpoint and an estimation resolution. The user can utilize this output, which gives up to 6 V and 1 A, as a complementary power supply to the SMU channel. Applications such as the characterization of transistors that require a steady current or voltage while sweeping another current or voltage can significantly profit by the lessened complexity, space, and cost offered by this module. For parallel test applications, the user can utilize 17 NI PXIe-4143 modules in a single PXI frame for 17 SMU channels and 17 programmable power supply channels in a 19-inch and 4U space.

The two channels of this PXIe 4143 SMU can act as a constant voltage source or as a steady current source, with a movable consistence restrict for any of the modes. Also, the user can empower remote sensing on the SMU channel to augment the exactness of output/voltage estimation on the gadget under test for high accuracy applications.

The PXIe-4143 SMU has estimation strategies that are generally based on the addition of current motions into the standard of the bipolar circuit and afterward into the voltage response estimation. This strategy is utilized if the device under test (DUT) has a low resistance; in case of high internal resistance of DUT, the addition of voltage motions is performed and after that the current reaction is estimated.

 

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